Modular Data Acquisition
Distributed Measurement and Control
High-Performance Test
Automated Test System Development Software
Perspectives showcases how NI sees what’s next in the world of test and technology.
You can request repair, RMA, schedule calibration, or get technical support. A valid service agreement may be required.
Provides support for NI data acquisition and signal conditioning devices.
Provides support for Ethernet, GPIB, serial, USB, and other types of instruments.
Provides support for NI GPIB controllers and NI embedded controllers with GPIB ports.
05-26-2023 03:48 AM
diademを初めて使っています。
Gセンサーにて収集したデータをdiadem上でX軸を周波数、Y軸を加速度とした2軸のグラフを作成したいと考えています。
現在作成できているのはX軸が時間、Y軸が加速度のグラフです。X軸を周波数に置き換えることは可能なのでしょうか。
ご協力お願いいたします。