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外部サンプルクロックの変更について

外部より入力された、クロックタイミングによりサンプリングを行う装置をプログラムを作成しています。
そのクロックにおいて、5回に1回でサンプリングを行うことを考えていますが、DAQを用いると毎回のクロックごとにサンプリングをしてしまいます。細かい設定ができません。どのようにしたら行えるでしょうか?
また、DAQを用いて、開始のタスクトリガを用いても、正確に開始しません。
開始のタスクトリガの設定は、サンプリングするデータの最大値でとるように行っていますが、うまく開始しません。
立ち下がりで開始とし、レベルの設定は-1.0となっています。
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お世話になっております。日本ナショナルインスツルメンツのタンビルと申します。
まず、外部クロックによるサンプリングを行う場合、DAQボードはそのクロックの立ち上がり/立下りのパルスをみてサンプリングを行っています。サンプリングのタイミングは完全に外部クロックのパルスのタイミングに任せられます。よって、5回に1回でサンプリングを行うことについて、DAQのプログラムで設定することができません。外部クロックのパルスの周波数を0.2倍にするか、あるいは、ボードの内部クロックを設定し、目的のレートでサンプリングを行う必要があります。
 
また、添付VIですが、これを、トリガ値を-100mvを設定し、正弦波信号をアナログエッジトリガで集録しましたが、問題なく集録ができました。サンプリングされているすべてのポイントの中にトリガ値の値があってかつ、立ち上がり/立下りの設定が正しければ、正しく信号を集録できるかと思われます。ただし、集録する信号の最大値や最小値をあらかじめ予測し、トリガ値として設定する場合、本当にその最大/最小値に信号が到達するかについて確認する必要があるかと思われます。
 
以上、よろしくお願いいたします。
 
日本ナショナルインスツルメンツ技術部
 
タンビル
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返信ありがとうございます。
 
つい先日、長野担当のセールスエンジニアの酒巻さんに来ていただき、原因が判明いたしました。
トリガは、分解能の設定の関係により、実際には到達していない値に、到達しているように見えていたため
その値に設定していたのが問題であったようです。
 
クロック数のほうは、ソフト的に測定した数値を抜き出す方法をとるようにしました。
 
ありがとうございました。
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